XRD分析是通過測量材料內(nei) 原子平麵對X射線的衍射，來研究和量化材料的結晶性質。它不僅(jin) 能夠確定材料的晶體(ti) 結構、相組成及微觀結構變化，還能夠測量晶體(ti) 含量、晶格平麵之間的間距以及晶體(ti) 的擇優(you) 生長等信息。XRD分析在材料科學、化學、物理學、地質學、製藥業(ye) 、法醫學以及玻璃工業(ye) 等多個(ge) 領域得到了廣泛應用。
XRD分析-中科檢測
XRD分析範圍
(1)晶體(ti) 結構：通過分析衍射圖樣來確定材料的晶體(ti) 結構，包括晶格常數、晶胞參數、晶體(ti) 對稱性等信息。
(2)晶體(ti) 相組成：通過分析衍射圖樣來確定材料中的晶體(ti) 相組成，即不同晶體(ti) 結構的相對含量。
(3)晶體(ti) 取向：測定晶體(ti) 在材料中的取向信息，包括晶體(ti) 的取向度和取向分布。
(4)晶體(ti) 缺陷：通過分析衍射圖樣來研究材料中的晶體(ti) 缺陷，如晶格畸變、位錯等。
(5)晶體(ti) 尺寸和形態：通過研究衍射峰的形狀和寬度來估計晶體(ti) 的尺寸和形態。
(6)物相分析：用於(yu) 物質的物相分析，確定材料的物相組成和晶體(ti) 結構。
(7)定性分析和定量分析：通過XRD圖譜進行物質的定性分析和定量分析。
(8)藥物晶型分析：用於(yu) 新藥研發時的化合物定性分析，確定藥物的晶型和結晶情況。
XRD分析方法和步驟
(1)峰的識別：首先，需要找到圖譜上的所有峰，並確定它們(men) 的2θ位置以及相對強度。
(2)相識別：根據峰的位置，使用標準的XRD數據庫來匹配相位。每種晶體(ti) 結構都有XRD峰位特征。
(3)定量分析：如果樣品中有多種相，可以通過峰的強度來估計各相的質量分數。這需要通過軟件擬合峰的形狀整合峰麵積，一般假設服從(cong) 瓊斯矩陣理論。
(4)嵌入分析：如果有非晶物質，也可以估計晶粒度的大致範圍。根據施萊爾公式粗略擬合峰寬度。
(5)應力分析：峰位的細微移動反映了樣品的應力狀態。峰位偏移量與(yu) 應力之間也有定量關(guan) 係。
(6)優(you) 選取向分析：比較同一相在不同晶麵反射峰的相對強度，可以判斷是否存在優(you) 選取向。實際應用中可能需要更複雜的擬合，結合樣品的已知信息來綜合判斷。
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